日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類(lèi)：其他設(shè)備

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-08

簡(jiǎn)要描述：日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D
適用于 B，C，D，F(xiàn)，G，J，K類(lèi)，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

適用?于 B，C，D，F(xiàn)，G，J，K類(lèi)，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

• 超高精度：分辨率10ppm，基本精度±0.005％
• 通過(guò)靜態(tài)功率抵消測(cè)量實(shí)現(xiàn)高精度和高穩(wěn)定性
• 由于從模擬到數(shù)字的隔離而提高了抗噪聲能力，因此具有很高的穩(wěn)定性
• 通過(guò)對(duì)每個(gè)范圍進(jìn)行測(cè)量值積分時(shí)間設(shè)置功能，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測(cè)量
• 值測(cè)量：0.00mΩ?125.00MΩ
  ％測(cè)量：5mΩ?109mΩ[±10.000％/-99.99?+ 25.00％]
• 接觸檢查：測(cè)量前/測(cè)量后/ OFF
• RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB是可選的）
• 打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（與Centronics兼容）
• 設(shè)置值傳送功能作為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備：（相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳送到另一臺(tái)AE-163D并自動(dòng)設(shè)置）
• 測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
• 配備測(cè)量探頭自動(dòng)清潔電路

校準(zhǔn)后90天[校準(zhǔn)后1年：兩倍]的測(cè)量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

* D =數(shù)字，n =積分時(shí)間（毫秒），使用Lo-Reso測(cè)量值
％時(shí)測(cè)量：α=（100 /標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值mΩ）x 0.01％，測(cè)量值時(shí)： α= 0（加±1d）
**屏蔽狀態(tài)下的精度

*規(guī)格如有變更，恕不另行通知。